X-Ray 형광분석기(XRF) 기기분석 세미나
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mj0723@jnu.ac.kr
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공동실험실습관 2층 세미나실 213호
X-Ray Tube에서 발생된 1차 연속 X선을 시료에 조사하여 시료 조성 원소 특유의 파장을 관측, 조성 성분의 종류(정성) 및 함량(정량)을 측정하는 기기로서 비파괴 분석 기법으로 고체, 분말 및 액체 시편의 원소 농도를 샘플 표면 매핑과 소형 스팟 분석을 활용하여 분석하는 X선 형광분석기(XRF) 세미나를 개최합니다. 본 특강에서는 XRF의 기본 이론부터 응용 방안 및 분석 예시까지 전반적인 과정을 다룰 예정입니다. 많은 관심과 신청 바랍니다.
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