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FE-TEM 기기분석 특강

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  • mj0723@jnu.ac.kr
  • 062-530-5908
  • 공동실험실습관 2층 세미나실 213호
이번 기기분석 특강에서는 FE-TEM(전계방사형 투과전자현미경)의 기초이론 및 회절, EDS 등 전반적인 과정을 다루며, TEM을 활용한 다양한 분석에 대한 교육으로 진행될 예정이오니 많은 참여 부탁드립니다.

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